首页  产品信息 材料分析设备 磁学测量 磁光克尔效应测量系统

磁学测量

小型磁畴观察显微镜磁光克尔效应测量系统+磁畴观测克尔显微镜磁光克尔(MOKE)效应测量系统磁畴观测克尔显微镜矢量磁畴观察系统磁光克尔效应测量系统磁畴观察显微镜绝热去磁制冷机原子力显微镜扫描探针——金刚石NV色心传感器金刚石NV色心扫描成像显微镜 显示全部
dow.png

磁光克尔效应测量系统

  • 产品图片
  • 微信好友

  • QQ好友

  • QQ空间

  • 新浪微博

  • 磁光克尔效应测量系统--市场上配置灵活的磁光克尔效应测量系统u-MOKE!

    所属类别:材料分析设备 » 磁学测量

    所属品牌:

    姓名:李工(William)

    电话:156 1809 2363

    邮箱:wentao-li@auniontech.com


  • 产品详情
  • 数据单及文献下载
  • 相关应用
  • 询问表格
  • 联系方式

    姓名:李工(William)

    电话:156 1809 2363

    邮箱: wentao-li@auniontech.com

    微信二维码

  • 磁光克尔效应测量系统

    市场上配置灵活的磁光克尔效应测量系统u-MOKE


    当聚焦激光束照射磁性材料(主要是磁性薄膜)时,因纵向磁光克尔效应和极向磁光克尔效应会造成激光偏振态变化(克尔偏转角变化),磁光克尔效应测量系统u-MOKE就是一套准确测量克尔偏转角变化的设备。

    磁光克尔效应测量系统u-MOKE通过装备的极向/面内磁体产生磁场测量偏振态的变化,可以测量分析磁性材料um量级局部区域的磁学特性。

    磁光克尔测量装置,MOKE,NanoMOKE,极向克尔效应,纵向克尔效应,横向克尔效应,表面磁光克尔效应,克尔磁光效应,磁畴测量,磁滞回线测量,材料磁性测量


              

     
    应用:
    n  基于极向克尔效应与纵向克尔效应的微观局部磁性分析
    n  适用于磁象和磁性薄膜的um尺寸灵敏度分析

     
    n  主要参数:
       光源:半导体激光器(典型405nm)
    n  光斑直径:纵向测量:约5um
       极向测量:约2um
    n  探测灵敏度:±0.005°
    n  探测范围:±1°
    n  磁场:极向磁体:>±10kOe
       面内磁体可选

     
    测量项目:
    磁滞回线:X轴:外加磁场H
              Y轴:克尔信号θk

    获得关键值(from磁滞回线):
    矫顽力Hc
    各项异性场Hk
    反向磁化Hn
    饱和磁场Hs

    剩余磁化强度θr
    饱和磁化强度θs

     
    同类产品系列:
    高灵敏度磁光克尔效应测量系统——灵敏度0.001°
    时间分辨磁光克尔效应测量系统——时间分辨率50ps




    询问表格

    * 号为必填内容
  • *
  • *
  • *
  • *
  • 产品标签:磁光克尔测量装置,MOKE,NanoMOKE,极向克尔效应,纵向克尔效应,横向克尔效应,表面磁光克尔效应,克尔磁光效应,磁畴测量,磁滞回线测量,材料磁性测量

    热销产品:

    数据单下载

    * 号为必填内容
    请在下载前填写下面表单
    Please fill in the form in before you download
    数据单:
    Aunion-Magneto_optic_Kerr_effect_measurement_system.pdf
  • *
  • *
  • *
  • *
  • 热销产品:

    预约试用

    * 号为必填内容
    请在下载前填写下面表单
    Please fill in the form in before you download
  • *
  • *
  • *
  • *