首页  产品信息 激光量测设备 波前分析仪 高分辨率波前分析仪/波前传感器/波前相差仪/波前探测器

波前分析仪

高分辨率相位成像相机高灵敏度等离子体分析仪SID4-V真空兼容波前分析仪活细胞定量相位成像相机超低读出噪声高速波前传感器高分辨率波前分析仪/波前传感器/波前相差仪/波前探测器相位波前角色散测量仪 显示全部
dow.png

高分辨率波前分析仪/波前传感器/波前相差仪/波前探测器

  • 产品图片
  • 微信好友

  • QQ好友

  • QQ空间

  • 新浪微博

  • 高分辨率波前分析仪/波前传感器/波前相差仪/波前探测器

    所属类别:激光量测设备 » 波前分析仪

    所属品牌:

    姓名:陈工(Jack)

    电话:186 2116 1680

    邮箱:changying-chen@auniontech.com


  • 产品详情
  • 数据单及文献下载
  • 相关应用
  • 询问表格
  • 联系方式

    姓名:陈工(Jack)

    电话:186 2116 1680

    邮箱: changying-chen@auniontech.com

    微信二维码

  • 高分辨率波前分析仪/波前传感器/波前相差仪/波前探测器


    400X300高分辨率、500um高动态范围、高性价比、同时检测波前与M^2波前传感器!


    关键词:波前传感器、波前分析仪、波前像差仪、传感器、波前测试仪、波前探测器、激光波前分析仪、哈特曼波前分析仪、虹膜定位、哈特曼波前传感器、波前象差、高分辨率波前分析仪、波前测量仪、激光光束及波前分析仪、夏克 哈特曼、镜头MTF


    法国PHASICS公司自主研发的波前传感器是基于四波横向剪切干涉技术。SID4系列波前分析仪相较传统的夏克-哈特曼波前探测器具有高分辨率、消色差、高灵敏度、高动态检测范围、操作简便等独特的优势。为波前像差、波前畸变的检测以及激光光束及波前的测量、分析,眼科虹膜定位波前像差引导等提供了全新的解决方案!PHASICS波前探测器配套的软件界面友好,可直观的输出高分辨率相位图和光束强度分布图。


    法国PHASICS波前传感器生产厂家具有雄厚的技术研发实力,能为客户提供的各种自适应光学系统OA-SYS(Adaptive Optics Loops),制定个性化解决方案。可根据客户的应用需求,为客户推荐合适的SID4波前传感器、可变形镜或空间光调制器、自适应光学系统操作软件等。


    图1 波前校正前与校正后对比

     


    PHASICS波前探测器依据其四波横向剪切干涉技术,对哈特曼掩模技术进行了大的升级、改进。PHASICS波前传感器将400X300的超高分辨率和500um的超大动态范围完美结合在了一起。可以满足不同的客户的应用需求,可对激光光束进行光强、位相、PSF(点扩散函数)、MTF(调制传递函数)、OTF(光学传递函数)、波前像差、M^2等进行实时、简便、快速的测量。

     


    第一部 产品介绍


    SID4 UV-HR高分辨紫外波前传感器

    PHASICS公司将 SID4的波前测量波长范围扩展到190nm-400nmSID4 UV-HR是一款适用于紫外波段的高分辨率波前传感器,非常适用于光学元件测量(例如印刷、半导体等等)和表面检测(半导体晶片检测等)。


    特点:

    分辨率(250x250

    通光孔径大(8.0mmx8.0mm)

    覆盖紫外光谱

    灵敏度高(0.5um)

    优化信噪比


    图2 SID4-UV波前分析仪

     


    SID4 波前传感器


    可用于400nm-1000nm 的激光的波前位相、强度分布,波前像差,激光的M2,泽尼克参数等进行实时的测量及参数输出。


    特点:

    波长范围:400-1100nm

    分辨率高(160x120)

    消色差

    测量稳定性高

    对震动不敏感

    结构紧凑,体积小

    可用笔记本电脑控制


    图3 SID4位相检测

     


    SID4-HR 波前相差仪


    可用于检测各种透镜,光学系统的检测,可以对透镜、光学系统的进行实时的PSF(点扩散函数)、MTF(调制传递函数)、OTF(光学传递函数)、波前像差测量及参数输出。相对于传统的透镜检测设备像:传函仪、干涉仪,具有操作简便,测量精度高,参数输出方便等优点,正在被越来越多的客户推崇。


    特点:

    波长范围:400-1100nm

    高性能的相机,信噪比高

    实时测量,立即给出整个物体表面的信息(120000个测量点)

    曝光时间极短,保证动态物体测量

    操作简单


    图4 SID4-HR


    图5 SID4-HR传递函数检测



    SID4 NIR 波前分析仪


    主要针对1550 nm1.5um-1.6um)激光的检测,具有分辨率高高灵敏度、高动态范围、操作简便等独特的优势。可用于光学测量,SID4 NIR是测量红外物体和红外透镜像差、PSFMTF和焦距及表面质量的理想工具。


    特点:

    高分辨率(160x120)

    快速测量

    性价比高

    测量

    对振动不敏感


    图6 SID4 NIR激光波前检测

     


    SID4 DWIR 波前仪


    具有宽波段测量的特点。可以实时的检测3-5um8-14um的波前位相,强度分布等响应的波前信息。可以很好的满足红外波段客户的波前检测需求。


    特点:

    光学测量:SID4 DWIR是测量红外物体特性(热成像和安全视觉)或红外透镜(CO2激光器)的理想工具,输出结果包括MTF,PSF,像差,表面质量和透镜焦距。

    光束测量:(CO2激光器,红外OPO激光光源等等)SID4 DWIR提供详尽的光束特性参数:像差,M2,光强分布,光束特性等

    高分辨率(96x72)

    可实现测量

    可覆盖中红外和远红外波段 大数值孔径测量,无需额外中转透镜

    快速测量 对振动不敏感

    可实现离轴测量

    性价比高


    7SID4 DWIR



    SID4产品型号参数汇总


    型号

    SID4

    SID4-HR

    SID4 UV-HR

    SID4 NIR

    SID4 DWIR

    SID4-SWIR

    孔径尺寸(mm2

    3.6 x4.8

    8.9 x11.8

    8.0 x8.0

    3.6x4.8

    13.44x10.08

    9.6x7.68

    空间分辨率(um)

    29.6

    29.6

    32

    29.6

    140

    120

    测量点数

    160x120

    300x400

    250x250

    160x120

    96x72

    80X64

    波长范围

    350-1100 nm

    350-1100 nm

    190-400 nm

    1.5-1.6µm

    3-5µm  8-14µm

    0.9- 1.7µm

    精准度

    10nm RMS

    10nm RMS

    10nm RMS

    >15nm RMS

    75nm RMS

    10nm RMS

    动态范围

    >100µm

    >500µm

    >200um

    >100µm

    /

    ~100µm

    采样速度

    60 fps

    10 fps

    30 fps

    60 fps

    50 fps

    60fps

    处理速度

    >10fps

    >3 fps

    1fps

    <10fps

    20 Hz

    >10Hz

     

     

    第二部 控制软件


     

    SID4波前分析仪控制软件


    SID4波前分析仪控制软件与SID4 波前传感器配套提供的是一款完整的分析软件,其集成了高分辨率的相位图与强度分布图,测量光强分布和波前信息。


    借助Labview和C++ 可编程模块数据库(软件二次开发工具包),客户能够根据自身的需要编写各种相位测量与编译模块。


    Adaptive Optics Loops将SID4 Wavefront Sensor结合您的应用,选配合适的可变形镜或相位调制器,提供整套的自适应光学系统。减小任何一个光学系统的相差从来都不是简单的,我们的产品能为激光光束和成像系统带来更可靠,高精度的解决方案。



    图8 SID4控制界面



    SID4光学测量软件Kaleo


    Phasics基于剪切干涉的波前传感器与专门设计的光学测量软件Kaleo结合,可以测量球面镜和非球面镜的像差及MTF等信息。只需要几秒钟,我们的仪器为您呈现绝大部分的光学参数,如焦距,光腰,MTF,像差,Zernike系数,曲率半径,PSF等。

     



    第三部 与传统哈特曼波前分析仪比较



    与传统哈特曼波前传感器测量结果对比:

     


    技术参数对比:



    PHASICS

    Shack-Hartmann

    区别

    技术

    剪切干涉

    微透镜阵列

    PHASICS投放市场时,是对夏克-哈特曼技术的升级

    重建方式

    傅里叶变换

    分区或模式法

    夏克-哈特曼波前探测器,局域导数以微透镜单元区域的平均值来近似,误差大

    强度

    对强度变化不敏感

    对强度变化灵敏

    PHASICS测量精度高,波前测量不依赖于强度水平

    校准

    用针孔校准、方便快捷

    安装困难,需要精密的调节台

    PHASICS使用方便

    取样点

    SID4-HR300X400测量点

    128X128测量点(多个微透镜)

    PHASICS具有更高的分辨率

    数值孔径

    NA0.5

    NA0.1

    PHASICS动态范围更高

    分辨率

    29.6μm

    115μm

    PHASICS具有更高的空间分辨率

    测量精度

    2nm RMS

    5nm RMS

    PHASICS更好的测量精度

    获取频率

    60fps

    30fps

    PHASICS获取速度快

    处理频率

    >10Hz

    30Hz

    PHASICS可满足大部分处理要求

    消色差

    无需对每个波长进行校准

    需要在每个波长处校正

    PHASICS更灵活,可以测试宽波段,而不需要校准

     


    第四部 应用领域


    激光、天文、显微、眼科等复杂自适应光学系统波前像差检测

    激光光束性能、波前像差、M^2、强度等的检测

    红外、近红外探测

    平行光管/望远镜系统的检测与装调

    卫星遥感成像、生物成像、热成像领域

    球面、非球面光学元器件检测 (平面, 球面, 透镜)

    虹膜定位像差引导

    大口径高精度光学元器件检测

    激光通信领域

    航空航天领域



    数据单下载

    展示全部 dow.png

    询问表格

    * 号为必填内容
  • *
  • *
  • *
  • *
  • 产品标签:波前传感器,波前分析仪,波前像差仪,传感器,波前测试仪,波前探测器,激光波前分析仪,哈特曼波前分析仪,虹膜定位,哈特曼波前传感器,波前象差,高分辨率波前分析仪,波前测量仪,激光光束及波前分析仪,夏克 哈特曼,镜头MTF

    热销产品:
    合束激光器

    数据单下载

    * 号为必填内容
    请在下载前填写下面表单
    Please fill in the form in before you download
    数据单:
    PHASICS_wavefront_sensor.pdf
  • *
  • *
  • *
  • *
  • 热销产品:

    预约试用

    * 号为必填内容
    请在下载前填写下面表单
    Please fill in the form in before you download
  • *
  • *
  • *
  • *