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衍射光学器件

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高度标准块

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    姓名:陈工(Jack)

    电话:186 2116 1680

    邮箱:changying-chen@auniontech.com


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    SILIOS公司提供各中采用其技术生产的垂直高度标准块,主要用于原子力显微镜(AFMs)及扫描探针显微镜(SPMs)的校准工作。高度从 1nm到 20 nm.


    Code

    Step Height Range(1)

    SIL020

    20 nm

    SIL010

    10 nm

    SIL005

    5 nm

    SIL001

    < 3 nm


    Tolerances : Typical : +/- 1 nm
    Option 1 : SILIOS certified (optical and mechanical measurements)
    Option 2 : Certification from an accredited laboratory (ISO5436 based)




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