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超快激光色散/相位测量

偏振旋转器载波包络相位(CEP)调谐仪相位波前角色散测量仪色散测量仪软件CEO-AD二维成像光谱仪 (飞秒脉冲色散空间分布测量仪)CEO-NIR 二维成像光谱仪 (飞秒脉冲色散空间分布测量仪)CEO-800二维成像光谱仪 (飞秒脉冲色散空间分布测量仪)载波包络相位(CEP)测量仪材料色散空间分布测量仪(啁啾分布测量) 显示全部
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载波包络相位(CEP)测量仪

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  • 载波包络相位测量仪 --- 纯线性光学技术测量载波包络相位相移工具!

    所属类别:激光量测设备 » 超快激光色散/相位测量

    所属品牌:匈牙利CE Optics公司

    产品负责人:

    姓名:谷工(Givin)

    电话:185 1625 1863

    邮箱:zonghao-gu@auniontech.com


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  • 载波包络相位测量仪

    纯线性光学技术测量载波包络相位相移工具

    载波包络相位测量仪CEOLiT用于对超短脉冲序列的CEP载波包络相位进行测量。其原理是超稳定传输环路的光谱由脉冲序列的CEP载波包络相位来决定。由于该技术是完全线性化技术,载波包络相位测量仪CEOLiT是能够对UV-IR极端波长微弱脉冲的载波包络相位进行测量的产品,光束带宽可以窄化到一个倍频程。

    光谱相移,相位波前,角色散,材料色散,光谱解析干涉,载波包络相位测量,CEP,载波包络相位稳定,二维成像光谱,展宽-压缩器,啁啾脉冲放大CPA,啁啾镜,超短脉冲测量


    当前测量CEP载波包络相位的常规方法要求:
    激光脉冲需要倍频程宽度
    足够的脉冲能力驱动非线性过程
    频谱范围受非线性过程的限制

    载波包络相位测量仪CEOLiT用于对超短脉冲序列的CEP载波包络相位进行测量。其原理是超稳定传输环路的光谱由脉冲序列的CEP载波包络相位来决定。由于该技术是完全线性化技术,载波包络相位测量仪CEOLiT是能够对UV-IR极端波长微弱脉冲的载波包络相位进行测量的产品,光束带宽可以窄化到一个倍频程。


    产品特点:
    基于线性光学干涉法
    无带宽限制
    对准及操作简单
    无频谱范围限制
    降低噪声及机械振动设计
    CEP载波包络相位测量
    采用超稳定HeNe激光,对环形长度进行测量并控制在1um以下
    包含测量和稳定控制软件
    CEP载波包络相位探测速度达35kHz


    技术规格:


    载波包络相位测量精度:@800nm

    @1030nm

                          @1550nm

    < 69 mrad

    < 54 mrad

    < 36 mrad

     

    脉冲序列重频(MHz

    68-90

    脉冲序列最小脉冲数

    <3

    光谱范围(um

    <0.15-20

    通光孔径(mm

    10

    体积(L×W×H):

    575×370×150



    长期稳定性图:


    相位噪声密度图:

     

     

     




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    Aunion_Carrier_Envelope_Offset_Phase_Drift_Measurement CEOLiT.pdf
    文献:
    Carrier-envelope phase drift measurement of picosecond pulses by an all-linear-optical means-CEP测量仪.pdf
    Agile_linear_interferometric_method_for_carrier-envelope phase drift measurement-CEP测量仪.pdf
    Drift and noise of the carrier–envelope phase in a Tisapphire amplifier-CEP测量仪.pdf
    External cavity enhancement of picosecond pulses with 28,000 cavity finesse-CEP测量仪.pdf
    What We Can Learn about Ultrashort Pulses by Linear-超快激光线性测量技术.pdf
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